Les applications des techniques d'analyse par faisceaux d'ions (Ion Beam Analysis en anglais) à l'art et l'archéologie remontent pratiquement aux débuts du développement de la méthode PIXE (Particle Induced X-ray Emission), avec l'étude de tessons de céramiques et d'outils en obsidienne. Elles ont ensuite été rapidement étendues à tous les matériaux du patrimoine culturel. Cependant, ces techniques sont plus adaptées à certains matériaux qu'à d'autres, par exemple ceux constitués de fines couches d'éléments de numéro atomique élevé sur un substrat d'éléments de faible numéro atomique (éléments légers), situation qui est celle des dessins et des enluminures.